一种器件寿命测试装置
避免重复授权放弃专利权
摘要
本实用新型公开了一种器件寿命测试装置，包括：固定基台(21)、驱动机台(22)和限位模块(23)；固定基台(21)和驱动机台(22)相对设置，在固定基台(21)和/或驱动机台(22)朝向对方的端面上，设置有用于固定被测器件的固定部(211/221)；限位模块(23)设置于固定基台(21)朝向驱动机台(22)的端面上，凸出该端面，凸出尺寸精度满足驱动机台(22)朝向固定基台(21)运动时的行程精度要求；驱动机台(22)垂直于朝向固定机台(21)的端面进行直线往复运动，在朝向固定基台(21)运动时，至与限位模块(23)接触时行程终止。本实用新型中，通过满足精度要求的限位模块限制驱动机台朝向固定机台运动时的测试行程，提高了进行寿命测试的测试精度。
基本信息
专利标题 ：
一种器件寿命测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720076004.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-11-09
授权号 ：
CN201107364Y
授权日 ：
2008-08-27
发明人 ：
孙利民王显耀
申请人 ：
英华达(上海)电子有限公司
申请人地址 ：
200233上海市徐汇区桂箐路7号
代理机构 ：
北京德琦知识产权代理有限公司
代理人 ：
王一斌
优先权 ：
CN200720076004.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01M5/00 G01M19/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2012-05-30 ：
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101356554530
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2007200760043
申请日 : 20071109
授权公告日 : 20080827
放弃生效日 : 20071109
号牌文件序号 : 101356554530
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2007200760043
申请日 : 20071109
授权公告日 : 20080827
放弃生效日 : 20071109
2008-08-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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