气溶胶颗粒分析仪中的紫外激光能量监控和受激荧光补偿系统
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种紫外激光能量监控和受激荧光补偿系统,该系统包括紫外激光发射器、紫外光路单元、荧光检测单元、紫外激光强度检测单元和荧光强度校准单元,所述紫外激光强度检测单元通过紫外光路单元与紫外激光发射器光学连接,且位于紫外激光光源发射方向上,紫外光路单元与荧光检测单元光学连接,荧光检测单元与荧光强度校准单元电连接,紫外激光强度检测单元与荧光强度校准单元电连接;紫外激光强度检测单元检测到的紫外激光发射器产生的紫外激光强度与标准值的相对偏差输送到荧光强度校准单元进行荧光强度校准。采用该系统,解决了紫外激光器工作在不同的重复脉冲频率下,由于能量不稳定而导致的荧光强度变化和最终测量结果误差的问题。

基本信息
专利标题 :
气溶胶颗粒分析仪中的紫外激光能量监控和受激荧光补偿系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720178752.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-09-26
授权号 :
CN201107254Y
授权日 :
2008-08-27
发明人 :
鹿建春刘毅李劲松李娜刘强张晓青孙振海温占波赵建军王洁
申请人 :
中国人民解放军军事医学科学院微生物流行病研究所北京汇丰隆生物科技发展有限公司
申请人地址 :
100071北京市丰台东大街20号
代理机构 :
北京邦信阳专利商标代理有限公司
代理人 :
黄泽雄
优先权 :
CN200720178752.2
主分类号 :
G01N15/00
IPC分类号 :
G01N15/00  G01N21/64  G01N33/48  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2017-10-31 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 15/00
申请日 : 20070926
授权公告日 : 20080827
2008-08-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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