本实用新型公开了一种往复式IC批次检测机台，包含供置放一供容纳多个待测IC元件的入料承载盘的入料区；设置有多个分别供电性连接该待测IC元件的连接器、供给讯号至所述连接器及自所述连接器取得资讯的处理器、供测试该待测IC元件的测试区；供置放一供容纳该已测IC元件的出料承载盘的出料区；一组具有多个盛放座、承载移动装置；具有多对入料搬移器、入料装置；具有对应该入料搬移器数目的多对出料搬移器、出料装置；及一组具有对应该入料搬移器数目、供自该承载移动装置取出该待测IC元件至对应的各该连接器、及多对机械臂的运载装置。直接节省检测过程中搬移受测IC元件所耗费的时间，提升检测效率。