一种选择性检测机台

专利权的终止

摘要

本实用新型适用于检测技术领域，提供了一种选择性检测机台，所述检测机台供电性检测和/或系统级检测待测半导体组件，所述的检测机台包括：一包括所述测试端口的基座；一组供容置复数个分别承载复数待测半导体组件的承载盘的供料装置；与所述测试端口数量对应的检测装置。本实用新型提供的检测装置装用承载架可使检测机台进行半导体的系统级检测，暂时移除承载架后，更可对半导体组件进行电性检测。

基本信息

专利标题：

一种选择性检测机台

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820095996.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-08-01

授权号：

CN201247290Y

授权日：

2009-05-27

发明人：

高宏典康博诚

申请人：

中茂电子(深圳)有限公司

申请人地址：

518054广东省深圳市南山区登良路南油天安工业村4号厂房8F

代理机构：

广东国晖律师事务所

代理人：

欧阳启明

优先权：

CN200820095996.9

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/00

电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）

法律状态

2017-09-22 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101749159984
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2008200959969
申请日 : 20080801
授权公告日 : 20090527
终止日期 : 20160801

2009-05-27 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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