待测物体共平面度的检测治具

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种待测物体共平面度的检测治具，包含一量测台、一发光源及一导光件。所述量测台呈中空且不透光，并包括一呈环绕的量测内周面，及一形成于所述量测台顶缘并供一待测物体放置的基准平面。量测内周面界定出一容室，发光源设置于量测台，并能发出光线穿过所述容室。导光件设置于量测台，并位于所述容室顶端，且供待测物体盖置其外。借此达到以光学方式来测试待测物体的共平面度，减少检测所需人力及提升良率的功效。

基本信息

专利标题：

待测物体共平面度的检测治具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820007622.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-03-31

授权号：

CN201184787Y

授权日：

2009-01-21

发明人：

许华山

申请人：

洋亨企业有限公司

申请人地址：

中国台湾台北县

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司

代理人：

戈泊

优先权：

CN200820007622.7

主分类号：

G01B11/30

IPC分类号：

G01B11/30 G01B11/14