本申请公开了一种用于待测元器件的测试治具，包括上盖和下盖，所述上盖和下盖之间设有中间可容纳待测元器件的凹槽，所述上盖上对应于所述待测元器件的位置设有弹片结构，所述弹片结构是导电材质，所述弹片结构从所述上盖的外围朝向所述上盖的中心延伸，以使得当所述上盖和下盖盖合时所述弹片结构能够与所述凹槽中的待测器件相接触。通过采用上述结构，待测元器件进行测试时，除弹片结构与待测元器件接触的部位外，其余部位不承受压力，弹片结构降低了施加在待测元器件上的扭力，同时又实现了电气连接，使该治具成为一种无损的测试治具，极大降低了待测元器件测试时产生的破损率。