本实用新型公开了一种片式电子元器件浪涌测试治具。该片式电子元器件浪涌测试治具包括底座；两片弹片，其相对设置，通过第一安装通孔插接固定在底座上；上盖，上盖与所述底座卡合固定；绝缘耐高温垫板，绝缘耐高温垫板设置在所述两片弹片之间，且与底座相连接；以及两块耐高温保护侧板，所述耐高温保护侧板设置在所述弹片和所述上盖之间，且与所述上盖相连接。采用上述设计，当片式电子元器件如电解电容在测试过程中出现短路，电解电容会爆燃，产生1600摄氏度以上的瞬间高温时，由于与其接触的垫板为绝缘耐高温，同时两块耐高温保护侧板也是耐高温的，就可以避免在该高温的影响下，对治具造成烧毁的问题，降低了老化测试治具的更换成本。