一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具，包括底板、器件固定座和齿轮；使用时，将电子元器件安装在器件安装槽内将其固定，在通过转动齿轮上的转动把手，使得齿轮进行转动，进一步的带动上齿条和下齿条进行向底板内侧运动，进而带动左滑动块和右滑动块上的左探测针和右探测针向电子元器件内侧移动，使得左探测针和右探测针上的左探测头和右探测头接触电子元器件，对电子元器件进行检测，使用起来操作方便快捷，尤其适用于小型电子元器件的出厂测试，还可以适用于其他类似元件的测试，结构简单，容易实现，提高测试效率和准确率，具有良好的应用前景。
基本信息
专利标题 ：
一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921885835.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-04
授权号 ：
CN211014504U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
李海东
申请人 ：
李海东
申请人地址 ：
黑龙江省鹤岗市兴安区新华镇永芳村一队
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921885835.4
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/01 G01R1/04 G01R1/067 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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