高精密测试治具
授权
摘要
本实用新型属于PCB电路板治具技术领域，尤其涉及一种高精密测试治具，该高精密测试治具包括安装机构和探针机构；安装机构设置有用于放置PCB电路板的检测工位；探针机构包括第一连接座、第一安装座、测试针具和复合弹簧，第一连接座设置在安装机构上且位于检测工位的一端，第一安装座设置在第一连接座上，第一安装座设置有第一安装孔，测试针具与第一安装孔滑动适配且用于测试PCB电路板，复合弹簧设置在第一安装孔内；其中，第一安装孔的孔径为0.09mm，复合弹簧的尺寸为0.3mm，本实用新型的有益效果在于：精度提升，并且可以解决一些密度更小的pcb板测试，提高该高精密测试治具的实用性。
基本信息
专利标题 ：
高精密测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020884503.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-23
授权号 ：
CN212483767U
授权日 ：
2021-02-05
发明人 ：
苏宝军
申请人 ：
东莞市连威电子有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市虎门镇大宁大板地工业区连江一路3号
代理机构 ：
东莞市科安知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
蔡登峰
优先权 ：
CN202020884503.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-02-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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