一种高精密电路板测试治具
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摘要

本实用新型涉及高精密电路板测试治具,包括底座,底座上端面设置有支撑架,支撑架上设置有支撑板,支撑板上铰接有按压组件,按压组件的下方连接有压板,压板下端面连接有多个压杆,底座上端还设置有测试台,测试台上端面设置有凹槽Ⅰ,凹槽Ⅰ内设置有异形凸起,测试台通过连接杆和底座弹性连接,底座上设置有多个探针,多个探针均贯穿测试台延伸到凹槽Ⅰ内,底座上端面还设置有定位杆,定位杆贯穿压板后连接在底座上,当进行测试时,电路板放置在凹槽内,启动按压组件带动压杆抵住电路板进行测量,测试台为弹性连接,避免过度按压给电路板造成的损害,同时又由于弹簧在压杆按压时给予一定的反作用力,避免了探针的测试点接触不良,测量结果准确。

基本信息
专利标题 :
一种高精密电路板测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020950408.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-29
授权号 :
CN212540626U
授权日 :
2021-02-12
发明人 :
金慧峰周晨
申请人 :
苏州创泰电子有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市太仓市城厢镇城区工业园(东港村)
代理机构 :
苏州根号专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
项丽
优先权 :
CN202020950408.6
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-02-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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