一种FPC高精密测试用治具
授权
摘要

本实用新型涉及一种FPC高精密测试用治具,包括:下支撑板,下支撑板上端面设置有用于放置FPC软板的凹槽和定位导柱,凹槽一端还设置有与其连通的放置槽;上支撑板,上支撑板经过定位导柱定位后盖压在下支撑板上,测量组件,测量组件设置在上支撑板下端面位置与凹槽相对应;降温组件,降温组件包括第一部分和第二部分,第一部分置于放置槽内,第二部分置于上支撑板的下端面位置与第一部分相对应。本实用新型通过一个固定在机台上的下支持板和固定在机器驱动机构的上支撑板进行定位,在通过位于上支撑板上的测量组件和降温组件进行测量和降温,由于测量模组的特殊设计,在测量时保证了软板的安全,此实用新型所需器件简单、定位精准以及测量数据误差小。

基本信息
专利标题 :
一种FPC高精密测试用治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921860464.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-31
授权号 :
CN211180094U
授权日 :
2020-08-04
发明人 :
徐文飞王海涛
申请人 :
苏州润弘安创自动化科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山市玉山镇城北中路888号
代理机构 :
苏州根号专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
项丽
优先权 :
CN201921860464.4
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-08-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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