等离子显示屏保护膜材料性能测试系统
专利权的终止
摘要
本实用新型针对目前等离子显示屏保护膜材料电子发射性能测试方法对设备要求过高，价格过于昂贵且信噪比不高等问题，公开了一种等离子显示屏保护膜材料性能测试方法及系统，它包括：在电子束蒸发镀膜机的真空室(1)中用电子枪(2)发射高能电子束(3)轰击置于水冷坩埚(4)中的保护膜材料(5)，使其发射出特定波长的紫外光(6)，紫外传输光纤(7)通过一个紫外光采集窗口(8)收集该紫外光(5)，并传输至光谱分析仪(12)上，由光谱分析仪(12)连接的个人电脑(13)给出当前材料的电子束激发光谱，从而分析该材料性能。本实用新型具有方法可靠，结构简单，有利于降低测试成本。
基本信息
专利标题 ：
等离子显示屏保护膜材料性能测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200820032459.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2008-03-07
授权号 ：
CN201159723Y
授权日 ：
2008-12-03
发明人 ：
孙青云朱立锋王保平张雄林青园
申请人 ：
南京华显高科有限公司
申请人地址 ：
210061江苏省南京市高新开发区商务办公楼413室
代理机构 ：
南京天华专利代理有限责任公司
代理人 ：
夏平
优先权 ：
CN200820032459.X
主分类号 ：
G01N23/22
IPC分类号 ：
G01N23/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
法律状态
2013-04-24 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101445118182
IPC(主分类) : G01N 23/22
专利号 : ZL200820032459X
申请日 : 20080307
授权公告日 : 20081203
终止日期 : 20120307
号牌文件序号 : 101445118182
IPC(主分类) : G01N 23/22
专利号 : ZL200820032459X
申请日 : 20080307
授权公告日 : 20081203
终止日期 : 20120307
2008-12-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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