平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板

专利权的终止

摘要

本实用新型针对采用Ag、Al电极等电极结构的等离子体显示板，在制程中产出的Ag、Al电极等电极的断线缺陷、连线缺陷，公开了一种平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板，其特征是可以由在玻璃(1a)表面依次烧结有电极(1b)和介质层(1c)的PDP面板构成；可以是在玻璃或者其它非导电材料(1a)的表面蒸镀一层金属等导电材料作为测试电极(1b₁)，然后在测试电极的局部测试区内覆盖绝缘介质层(1c)构成；可以是采用整块的银、铝、铜或其合金等导电金属材料作为测试电极(1b₁)，然后在这些金属材料表面采用表面氧化的氧化工艺形成一层不导电的绝缘层(1c)构成。利用本实用新型的测试面板能够快速准确地找出前后基板电极线的断线和连线缺陷点，具有制作工艺简单，成本低的优点。

基本信息

专利标题：

平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820033604.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-03-28

授权号：

CN201207368Y

授权日：

2009-03-11

发明人：

黄秋铭张雄李青朱立锋林青园王保平陈程

申请人：

南京华显高科有限公司

申请人地址：

210061江苏省南京市高新开发区商务办公楼413室

代理机构：

南京天华专利代理有限责任公司

代理人：

夏平

优先权：

CN200820033604.6

主分类号：

H01J9/42

IPC分类号：

H01J9/42 G01R31/02