等离子体显示器的实验测试系统
避免重复授权放弃专利权
摘要
一种等离子体显示器的实验测试系统，其特征是它主要包括真空腔体(1)，真空腔体(1)开有上观察窗(9)、侧观察窗(10)，所述的真空腔体(1)还连接有电极接线柱(12)、真空充排气系统(2)、真空计(3)、加热电路(4)和测试装置(8)；在真空腔体(1)中安装有前基板(13)、后基板(14)及夹装在它们中间的荫罩(15)它们对齐而不封接，荫罩(15)上的每一栅格网孔与前基板(13)、后基板(14)上的电极垂直相交，形成基本放电单元，前基板(13)和后基板(14)上的电极与电极接线柱(12)相连，电极接线柱(12)与高压驱动电路(6)的输出端相连，高压驱动电路(6)的输出波形由主控电路(5)控制，高压驱动电路(6)还连接有示波器(7)。本实用新型有利于提高测试效率，缩短研发周期，降低开发成本。
基本信息
专利标题 ：
等离子体显示器的实验测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200820036385.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2008-06-06
授权号 ：
CN201207066Y
授权日 ：
2009-03-11
发明人 ：
杨兰兰屠彦张雄朱立锋王保平林青园张浩康
申请人 ：
南京华显高科有限公司
申请人地址 ：
210061江苏省南京市高新开发区商务办公楼413室
代理机构 ：
南京天华专利代理有限责任公司
代理人 ：
夏 平
优先权 ：
CN200820036385.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2011-01-12 ：
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101060308669
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2008200363857
申请日 : 20080606
授权公告日 : 20090311
放弃生效日 : 20080606
号牌文件序号 : 101060308669
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2008200363857
申请日 : 20080606
授权公告日 : 20090311
放弃生效日 : 20080606
2009-03-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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