检测装置
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种检测装置，适用于检测一电路板，其包含一预设电路板、至少一待测电路板及一自动光学检测(Automated Optical Inspection，AOI)模组，其中自动光学检测(Automated Optical Inspection，AOI)模组，系用以侦测预设电路板以产生一预设资料，并依据预设资料以检测待测电路板，以输出一检测结果。
基本信息
专利标题 ：
检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200820060657.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2008-07-14
授权号 ：
CN201269742Y
授权日 ：
2009-07-08
发明人 ：
谈帅
申请人 ：
英华达(上海)科技有限公司
申请人地址 ：
201114上海市闵行区漕河泾出口加工区浦星路789号
代理机构 ：
上海浦一知识产权代理有限公司
代理人 ：
丁纪铁
优先权 ：
CN200820060657.7
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01R31/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2015-09-02 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101623263660
IPC(主分类) : G01B 11/00
专利号 : ZL2008200606577
申请日 : 20080714
授权公告日 : 20090708
终止日期 : 20140714
号牌文件序号 : 101623263660
IPC(主分类) : G01B 11/00
专利号 : ZL2008200606577
申请日 : 20080714
授权公告日 : 20090708
终止日期 : 20140714
2009-07-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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