高精度微波辐射计

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及一种高精度微波辐射计，由狄克辐射计、脉冲噪声注入系统两部分组成，脉冲噪声注入系统由反馈放大器、压控振荡器及波形整形器、噪声源、天线及耦合器，天线经耦合器与狄克辐射计的单刀双掷开关相连，狄克辐射计的接收机另一端依次与反馈放大器、压控振荡器及波形整形器、噪声源和耦合器相连成回路。本实用新型损掉了微波开关、频率计和记录器，从而成本低，电路简单性能更好。采用本实用新型为测量不同地物的微波辐射特性，稳定度小于1K，满足精密测量的要求。将本实用新型用作机载海洋遥感测量海面油膜污染及海面温度分布，船载海洋遥感测量海水含盐量及其它参数，均获得了很好的效果。

基本信息

专利标题：

高精度微波辐射计

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820065450.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-01-24

授权号：

CN201166689Y

授权日：

2008-12-17

发明人：

张祖荫金锋张文珍施锐

申请人：

武汉安德瑞科技有限公司

申请人地址：

430074湖北省武汉市洪山区珞瑜路618号滨湖小区2号楼A单元2楼

代理机构：

武汉开元专利代理有限责任公司

代理人：

唐正玉

优先权：

CN200820065450.9

主分类号：

G01R29/08

IPC分类号：

G01R29/08