一维综合孔径微波辐射计
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种一维综合孔径微波辐射计,包括依次连接的天线阵列、接收机阵列、相关器单元、控制和数据处理单元,所述控制和数据处理单元与计算机或数据接口连接;其特征在于,所述天线阵列是一维天线阵列,该天线阵列由平行排列的双极化天线单元组成。本实用新型具有如下技术效果:实现了一维综合孔径的全极化测量;实现了综合孔径辐射计等入射角测量;实现了综合孔径微波辐射计的两点定标;本实用新型的一维孔径综合的技术复杂度低于二维孔径综合;本实用新型的单通道接收机极化切换模式满足了轻量化和低功耗的要求;本实用新型的双通道接收机模式实现了高灵敏度辐射测量。

基本信息
专利标题 :
一维综合孔径微波辐射计
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720169818.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-07-20
授权号 :
CN201138358Y
授权日 :
2008-10-22
发明人 :
吴季阎敬业马纽埃尔·马丁·尼拉
申请人 :
中国科学院空间科学与应用研究中心
申请人地址 :
100084北京市海淀区中关村南二条1号
代理机构 :
北京泛华伟业知识产权代理有限公司
代理人 :
王勇
优先权 :
CN200720169818.1
主分类号 :
G01R29/08
IPC分类号 :
G01R29/08  G01R29/10  G01S13/90  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
法律状态
2014-09-10 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101586821094
IPC(主分类) : G01R 29/08
专利号 : ZL2007201698181
申请日 : 20070720
授权公告日 : 20081022
终止日期 : 20130720
2008-10-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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