一种星载一维综合孔径辐射计的馈源口面外定标装置
授权
摘要
本发明提供了一种星载一维综合孔径辐射计的馈源口面外定标装置，包括：多频段馈源及接收机阵列、高温定标源、低温定标源、驱动机构、功率及信号传输组件、控制配电模块、数据采集处理模块、支撑结构；多频段馈源及接收机阵列排布在支撑结构上，驱动机构安装在支撑结构上；高温定标源、低温定标源与驱动机构连接；功率及信号传输组件的第一端与数据采集处理模块电连接，第二端分别与高温定标源、低温定标源、驱动机构电连接；控制配电模块与多频段馈源及接收机阵列、高温定标源、低温定标源、驱动机构、数据采集处理模块电连接；数据采集处理模块与多频段馈源及接收机阵列电连接。本发明结构简单、易于实现，有效提高了辐射计的系统定标精度。
基本信息
专利标题 ：
一种星载一维综合孔径辐射计的馈源口面外定标装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113218510A
申请号 ：
CN202110525137.9
公开（公告）日 ：
2021-08-06
申请日 ：
2021-05-13
授权号 ：
CN113218510B
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
刘瑞吕利清赵锋栾英宏李宁杰
申请人 ：
上海航天测控通信研究所
申请人地址 ：
上海市闵行区中春路1777号
代理机构 ：
上海汉声知识产权代理有限公司
代理人 ：
胡晶
优先权 ：
CN202110525137.9
主分类号 ：
G01J5/00
IPC分类号 ：
G01J5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2022-05-27 ：
授权
2021-08-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 5/00
申请日 : 20210513
申请日 : 20210513
2021-08-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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