一种综合孔径微波辐射计全链路相位误差校准系统和方法
授权
摘要
本发明提供了一种综合孔径微波辐射计全链路相位误差校准系统和方法，所述系统包括：综合孔径微波辐射计、指向校准天线、北斗时间系统、北斗定位系统、方位俯仰跟踪驱动系统、地测设备；所述指向校准天线，安装在所述综合孔径微波辐射计上，用于综合孔径微波辐射计的指向校准；所述北斗时间系统，用于向所述校准系统提供时间信息；所述北斗定位系统，用于确定综合孔径微波辐射计所在位置的经度、纬度和海拔高度；所述方位俯仰跟踪驱动系统用于驱动所述综合孔径微波辐射计和所述指向校准天线，以跟踪天空星体运动；所述地测设备，用于控制所述方位俯仰跟踪驱动系统运动，并收集和处理数据。与现有技术相比，本发明可以提高全链路相位误差校准精度。
基本信息
专利标题 ：
一种综合孔径微波辐射计全链路相位误差校准系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112904257A
申请号 ：
CN202110114673.X
公开（公告）日 ：
2021-06-04
申请日 ：
2021-01-27
授权号 ：
CN112904257B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
董健崔新东孙彦龙栾英宏冯剑锋徐红新赵锋钱巧元
申请人 ：
上海航天测控通信研究所;北京应用气象研究所
申请人地址 ：
上海市闵行区中春路1777号
代理机构 ：
上海汉声知识产权代理有限公司
代理人 ：
王晶
优先权 ：
CN202110114673.X
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2021-06-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20210127
申请日 : 20210127
2021-06-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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