微型傅里叶变换光谱仪
避免重复授权放弃专利权
摘要

本实用新型涉及一种微型傅里叶变换光谱仪。该光谱仪主要由准直系统、分光系统和探测接收系统构成;待测光源发射的光束经准直系统准直后入射到分束器上,分束器将入射光分为强度相等的两束相干光,一束经分束器反射后入射到第二反射镜上,经过反射后返回分束器,另一束透过分束器入射到第一阶梯镜上,经反射后回到分束器。由第二反射镜和第一阶梯镜不同位置反射的光在探测接收系统的空间不同位置发生干涉形成多个定域干涉条纹。本实用新型除了具备高光通量和高分辨率等优点外,还具有重复性好、工作可靠,并且测量实时性好等优点,在省略掉激光参考干涉仪基础上实现了各级次同时采样,可广泛应用于光源等多种光谱测量。

基本信息
专利标题 :
微型傅里叶变换光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820071669.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-04-10
授权号 :
CN201203578Y
授权日 :
2009-03-04
发明人 :
梁静秋孔延梅梁中翥
申请人 :
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 :
130012吉林省长春市东南湖大路16号
代理机构 :
长春菁华专利商标代理事务所
代理人 :
王淑秋
优先权 :
CN200820071669.X
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2011-08-17 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101176933663
IPC(主分类) : G01N 21/45
专利号 : ZL200820071669X
申请日 : 20080410
授权公告日 : 20090304
放弃生效日 : 20080410
2009-03-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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