傅里叶分光分析装置
公开
摘要
傅里叶分光分析装置具备：光源；干涉仪，从光源射出的光中得到强度分布相互反转的第一干涉图、第二干涉图；合波光学系统，将第一干涉图、第二干涉图合波而向试样照射；分波光学系统，将经由试样的光所包含的第一干涉图、第二干涉图进行分波；受光部，输出接收被分波的第一干涉图而得到的第一受光信号和接收被分波的第二干涉图而得到的第二受光信号；以及信号处理装置，进行使用第一受光信号、第二受光信号，求得分析波段的波长成分的、除去了噪声的光谱的处理。
基本信息
专利标题 ：
傅里叶分光分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114599948A
申请号 ：
CN202080075563.0
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2020-10-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
铃木泰幸中村幸弘生田目哲志
申请人 ：
横河电机株式会社
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
金兰
优先权 ：
CN202080075563.0
主分类号 ：
G01J3/45
IPC分类号 ：
G01J3/45 G01N21/25 G01N21/45
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/45
干涉光谱法
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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