辊传动射线探伤底片评片装置
专利权的终止
摘要

辊传动射线探伤底片评片装置属无损检测技术领域。壳体内紧固有一压辊支架,压辊支架的中部设有平射光窗口,其两侧各设一个或多个传动压辊对,平射光窗口后方设能产生平射光的光源组件。壳体面板设与平射光窗口相对的观片窗口,壳体的一侧面开有进片口、另一侧面开有出片口,传动压辊对中起码有一对与可逆步进电机减速传动联结。最好采用大功率LED光源,在观片窗口处可设能移动的标尺,可在壳体内安设一黑白密度计,还可在壳体观片窗口的上方铰接一可转动放下和上抬的影象摄录设备支架,从而需要时可安放上一个数字式影象摄录设备,将底片的视觉信息转化成数字信号。优点:评片人员劳动强度小,操作便利,评片效率高。

基本信息
专利标题 :
辊传动射线探伤底片评片装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820081386.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-06-23
授权号 :
CN201233377Y
授权日 :
2009-05-06
发明人 :
施少捷
申请人 :
施少捷
申请人地址 :
650000云南省昆明市东华小区田园里17号付32号402
代理机构 :
昆明科阳知识产权代理事务所
代理人 :
李行健
优先权 :
CN200820081386.3
主分类号 :
G01N23/18
IPC分类号 :
G01N23/18  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2011-08-31 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101101709777
IPC(主分类) : G01N 23/18
专利号 : ZL2008200813863
申请日 : 20080623
授权公告日 : 20090506
终止日期 : 20100623
2009-05-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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