用于评定AWS美标焊缝射线探伤底片的评片尺
授权
摘要

本实用新型提供了一种用于评定AWS美标焊缝射线探伤底片的评片尺,包括长方形的透明尺片,透明尺片上设置有第一直尺、第二直尺、缺陷长度评定区和缺陷间距定量区;其中,缺陷长度评定区包括中心圆、第一阶梯尺、第二阶梯尺、第三阶梯尺和第四阶梯尺,第一阶梯尺、第二阶梯尺、第三阶梯尺和第四阶梯尺各自具有2~5个阶梯并逆时针分布在中心圆的四周,第一阶梯尺、第二阶梯尺、第三阶梯尺和第四阶梯尺的阶梯限定出不同的宽度;缺陷间距定量区包括至少一个缺陷间距定量坐标尺,其具有显示焊缝尺寸的第一坐标、显示所允许的最大不连续性尺寸的第二坐标和显示所允许的缺陷之间最小间距的第三坐标;评片尺同时标有国际长度单位和英制长度单位。

基本信息
专利标题 :
用于评定AWS美标焊缝射线探伤底片的评片尺
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921477147.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-06
授权号 :
CN210665550U
授权日 :
2020-06-02
发明人 :
曹永胜郭志勇蔡彦强张雪松秀妍于淼
申请人 :
中车唐山机车车辆有限公司
申请人地址 :
河北省唐山市丰润区厂前路3号
代理机构 :
北京一品慧诚知识产权代理有限公司
代理人 :
邓树山
优先权 :
CN201921477147.4
主分类号 :
G01N23/18
IPC分类号 :
G01N23/18  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2020-06-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN210665550U.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332