一种利用空芯光子晶体光纤的光谱测量装置
专利权的终止
摘要
一种利用空芯光子晶体光纤的光谱测量装置,解决现有荧光光谱仪测量装置荧光能量收集困难,灵敏度低、测量数据不准确、应用范围小等技术问题,采用的技术方案是,测量装置中的空芯光子晶体光纤结构为,中间为空芯层,同轴线径向设有内空气孔阵列层、在内空气孔阵列层外设有内圆环包层,在内圆环包层外设有外空气孔阵列层,外空气孔阵列层设有外圆环包层,外圆环包层外设有涂敷层,内空气孔阵列层、内圆环包层、内圆环包层的壁厚是内空气孔阵列层和外空气孔阵列层中空气孔壁厚的100倍以上。当激发光为脉冲时,有利于脉冲形状的保持,同时激光在空气纤芯内传输可以大大降低强激光的石英散射所形成的背景噪声,从而提高测量灵敏度和准确度,该装置结构简单,应用范围广。
基本信息
专利标题 :
一种利用空芯光子晶体光纤的光谱测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820091504.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-01-02
授权号 :
CN201233367Y
授权日 :
2009-05-06
发明人 :
闫培光阮双琛张敏郭春雨邢凤飞
申请人 :
深圳大学;闫培光;阮双琛;张敏;郭春雨;邢凤飞
申请人地址 :
518000广东省深圳市南山区南海大道3688号
代理机构 :
深圳市智科友专利商标事务所
代理人 :
曲家彬
优先权 :
CN200820091504.9
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2011-03-23 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101059087882
IPC(主分类) : G01N 21/64
专利号 : ZL2008200915049
申请日 : 20080102
授权公告日 : 20090506
终止日期 : 20100202
号牌文件序号 : 101059087882
IPC(主分类) : G01N 21/64
专利号 : ZL2008200915049
申请日 : 20080102
授权公告日 : 20090506
终止日期 : 20100202
2009-05-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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