X射线准直器装置
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种X射线准直器装置,包括底座(6),其特征在于:在所述底座(6)上设置固定连接的狭缝主体(1),在所述狭缝主体(1)内设置直通的狭缝(2);所述狭缝(2)为矩形狭缝;所述狭缝主体(1)由整体L型的上扣件(1-1)和下扣件(1-2)的内扣合面(10)、外扣合面(11)沿光路方向以相互配合的凹凸形台阶面交错扣合,并经定位销(4)和定位螺钉(5)固定组成,其外形为正六面体。本实用新型提供的用于X射线测试分析仪器设备的准直器装置的狭缝定位准确,不产生半影区和X射线散射干扰,加工及使用装配调试方便,且便于快速更换,可靠地提高了测试分析的精度和效率,能满足高精度测试要求。

基本信息
专利标题 :
X射线准直器装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820098648.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-06-24
授权号 :
CN201237920Y
授权日 :
2009-05-13
发明人 :
郑林李迪凡何长光彭正坤
申请人 :
西南技术工程研究所
申请人地址 :
400039重庆市高新区渝州路33号
代理机构 :
重庆弘旭专利代理有限责任公司
代理人 :
周韶红
优先权 :
CN200820098648.7
主分类号 :
G21K1/02
IPC分类号 :
G21K1/02  G01N23/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G21
核物理;核工程
G21K
未列入其他类目的粒子或电离辐射的处理技术;照射装置;γ射线或X射线显微镜
G21K1/00
粒子或电离辐射的处理装置,如聚焦或慢化
G21K1/02
使用光阑、准直器
法律状态
2018-07-17 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G21K 1/02
申请日 : 20080624
授权公告日 : 20090513
2009-05-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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