离子迁移谱仪
避免重复授权放弃专利权
摘要

公开了一种离子迁移谱仪,包括沿着迁移管依次布置的进样器、半透膜、离化区和端电极,其中在离化区靠近半透膜的一侧设置一个或多个进气孔,与针阀和第一过滤装置连接,用于进气,所述端电极上有直径小于所述进气孔的至少一个孔,在离化区靠近端电极的位置设置有孔,与用于抽气的抽气泵连接。本实用新型由于采取以上结构,控制与电离区连接泵的气体流速,由于微孔结构和使用针阀形成较大的气阻,在电离区和半透膜处形成较低的气压,从而大大提高了半透膜的透过效率;由于半透膜的双金属网片夹持结构,半透膜不会由于低气压而凸起。

基本信息
专利标题 :
离子迁移谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820109259.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-07-16
授权号 :
CN201247223Y
授权日 :
2009-05-27
发明人 :
李元景张清军彭华张阳天
申请人 :
同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请人地址 :
100084北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
王波波
优先权 :
CN200820109259.X
主分类号 :
G01N27/64
IPC分类号 :
G01N27/64  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/30
•••电极,例如测试电极;半电池
G01N27/60
通过测试静电变量
G01N27/64
利用波或粒子辐射电离气体,例如在电离室内
法律状态
2012-06-20 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101368730767
IPC(主分类) : G01N 27/64
专利号 : ZL200820109259X
申请日 : 20080716
授权公告日 : 20090527
放弃生效日 : 20080716
2009-05-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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