光学检测机改良结构
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种光学检测机改良结构,其系包括光源装置、反射镜、透镜组所组成,该光源装置可射出发散光源,且光源装置前侧设有具预设角度倾斜而可将发散光源反射的反射镜,并于光源反射路线上设有透镜组,其透镜组设有二个以上的背投影电视屏幕,且各背投影电视屏幕之间设有可调整使光线直射或散射的调光薄膜,使发散光源经过透镜组后便可折射成为平行光源或为收缩光源,当既有的单一背投影电视屏幕无法满足检测需求时,利用透镜组二个以上的背投影电视屏幕迭合便可调整焦距以符合所需的操作距离。

基本信息
专利标题 :
光学检测机改良结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820110921.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-04-29
授权号 :
CN201199232Y
授权日 :
2009-02-25
发明人 :
黄秋逢
申请人 :
赖秀惠
申请人地址 :
台湾省台北县新庄市后港一路49巷5弄20号3楼
代理机构 :
北京天平专利商标代理有限公司
代理人 :
赵海生
优先权 :
CN200820110921.3
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2016-06-22 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101667298955
IPC(主分类) : G01N 21/88
专利号 : ZL2008201109213
申请日 : 20080429
授权公告日 : 20090225
终止日期 : 20150429
2009-02-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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