光学检测模块
专利权的终止
摘要

一种光学检测模块,至少包括:光源、透反射元件、反射元件以及影像感测组件,其中从光源所射出的光线穿透该透反射元件而到达平面待测物,使平面待测物反射影像光路至所述透反射元件,再经由所述透反射元件进一步反射至所述反射元件,再经由所述反射元件导引至影像感测组件。该光学检测模块可有效解决现有技术中拍摄影像的质量受限以及影像感测组件架设位置受限的问题。

基本信息
专利标题 :
光学检测模块
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820115987.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-07-02
授权号 :
CN201233372Y
授权日 :
2009-05-06
发明人 :
姜智杰
申请人 :
晶彩科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾新竹县
代理机构 :
北京泛诚知识产权代理有限公司
代理人 :
文 琦
优先权 :
CN200820115987.1
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/94  G01N21/958  G01N21/896  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2014-08-20 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101584559686
IPC(主分类) : G01N 21/88
专利号 : ZL2008201159871
申请日 : 20080702
授权公告日 : 20090506
终止日期 : 20130702
2009-05-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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