检测光学成像模块的对准损耗
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摘要

本公开涉及检测光学成像模块的对准损耗。本文公开了一种成像装置,该成像装置包括外壳,其中成像光学器件安装在外壳中并且被配置为在外壳内的焦平面处形成位于外壳外部的对象的光学图像。包括检测器元件的矩阵的图像传感器定位在焦平面处,与成像光学器件对准,并且被配置为响应于入射在检测器元件上的光学辐射而输出电子图像信号。至少一个发射器被固定在外壳内并且被配置为朝向外壳内的一个或多个反射表面发射测试光束,该一个或多个反射表面朝向图像传感器反射测试光束。处理器被配置为处理由图像传感器响应于所反射的测试光束而输出的电子图像信号,以便检测图像传感器与成像光学器件的对准的变化。

基本信息
专利标题 :
检测光学成像模块的对准损耗
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110895191A
申请号 :
CN201910839606.7
公开(公告)日 :
2020-03-20
申请日 :
2019-09-06
授权号 :
CN110895191B
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
A·亚伯拉罕R·D·帕杰拉R·雷米兹
申请人 :
苹果公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚
代理机构 :
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 :
宿小猛
优先权 :
CN201910839606.7
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  H04N5/225  H04N17/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-12 :
授权
2020-04-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20190906
2020-03-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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