电子组件透视检测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种电子组件透视检测装置,包含:光源组件,承载组件,以及成像组件;该成像组件包含X光转换/影像增强部件,镜头;CCD照相机,以及影像辨识组件。所述电子组件透视检测装置应用于电子组件透视检测环境中,该电子组件透视检测装置利用X光源及/或可见光源来照射所须检测的电子组件,在无须移动电子组件检测物的情况下,分析、判断所得的电子组件外形轮廓影像、以及该电子组件内部透视影像,用于检测该电子组件是否为良品。

基本信息
专利标题 :
电子组件透视检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820114102.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-05-23
授权号 :
CN201251431Y
授权日 :
2009-06-03
发明人 :
董文山范炽格
申请人 :
骏泽科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾桃园县
代理机构 :
北京华夏博通专利事务所
代理人 :
刘 俊
优先权 :
CN200820114102.6
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  G01B15/04  G01N23/18  G01N21/88  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2017-07-14 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101734188252
IPC(主分类) : G01B 11/24
专利号 : ZL2008201141026
申请日 : 20080523
授权公告日 : 20090603
终止日期 : 20160523
2009-06-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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