高精度、高效率温度补偿测试系统
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种高精度、高效率温度补偿测试系统,包括定位装置、测试装置、温箱、温度控制系统、载盘、频率接收装置、电压控制装置、视觉系统和软件控制系统,装有工件的载盘通过定位装置放置于温箱内,测试装置将采集到的原始数据通过控制盒等装置输送到软件控制系统,软件控制系统进行处理后将最终结果再通过控制盒等装置返送到工件芯片,完成整个温度补偿测试过程,该系统将采集数据通过软件精确计算得出最佳寄存器数值;根据补偿测试结果快速完成寄存器修正、实现二次补偿;可实现研发人员即时观察补偿测试过程、即时停止程序、即时调整后再运行程序等优点,是一款高精度、高效率温度补偿测试的系统。

基本信息
专利标题 :
高精度、高效率温度补偿测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820126746.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-06-26
授权号 :
CN201213249Y
授权日 :
2009-03-25
发明人 :
吴茜张威刘贵枝杨红永
申请人 :
廊坊中电大成电子有限公司;天津必利优科技发展有限公司
申请人地址 :
065001河北省廊坊市经济技术开发区景明道2号CEC廊坊工业园
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200820126746.7
主分类号 :
H03B5/04
IPC分类号 :
H03B5/04  G01R31/28  
法律状态
2010-09-22 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101005933790
IPC(主分类) : H03B 5/04
专利号 : ZL2008201267467
申请日 : 20080626
授权公告日 : 20090325
2009-03-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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