光学检测治具

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种光学检测治具，该治具本体上设有多个用于固定背光源产品的定位槽，各定位槽纵横排列，且各定位槽的横向间距相同，纵向间距也相同。这种多工位的治具，一次校对初始被检点，就可检测多个产品，省去了对每个产品都需进行初始点校对的步骤，可大幅提高工作效率。

基本信息

专利标题：

光学检测治具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820146003.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-10-22

授权号：

CN201285345Y

授权日：

2009-08-05

发明人：

王凯钟剑陈泳翔

申请人：

厦门京东方电子有限公司

申请人地址：

361100福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区翔虹路1号

代理机构：

厦门市新华专利商标代理有限公司

代理人：

朱凌

优先权：

CN200820146003.6

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02 G01J1/04

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01M

机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试

G01M11/02

•光学性质测试

法律状态

2017-12-08 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20081022
授权公告日 : 20090805
终止日期 : 20161022

2011-05-11 ：

专利实施许可合同备案的生效、变更及注销

专利实施许可合同备案的生效号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101083935836
IPC(主分类) : G01M 11/02
专利申请号 : 2008201460036
专利号 : ZL2008201460036
合同备案号 : 2011320000312
让与人 : 厦门京东方电子有限公司
受让人 : 合肥京东方显示光源有限公司
实用新型名称 : 光学检测治具
申请日 : 20081022
授权公告日 : 20090805
许可种类 : 独占许可
备案日期 : 20110318

2009-08-05 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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1、

CN201285345Y.PDF

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