pH值测试装置
专利权的终止
摘要
本实用新型提出一种pH值测试装置，包括测量室，其上至少有一连接口，所述测量室内设有传感器，所述传感器与显示装置相连，待测物质通过所述测量室后由所述传感器感测待测物质pH值并由显示装置显示；一导管，导通连接于所述测量室的一端，导管上固定有一手动阀；所述测量室的另一端有一导通孔，本实用新型能够定期的排放产生的结晶保证了pH值测试装置测试的精度，校验过程更加的方便，而且更加有利于对工作人员的保护。
基本信息
专利标题 ：
pH值测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200820154027.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2008-10-14
授权号 ：
CN201298031Y
授权日 ：
2009-08-26
发明人 ：
周树国
申请人 ：
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请人地址 ：
201203上海市张江路18号
代理机构 ：
上海思微知识产权代理事务所
代理人 ：
屈 蘅
优先权 ：
CN200820154027.6
主分类号 ：
G01N31/00
IPC分类号 ：
G01N31/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N31/00
利用本组规定的化学方法对非生物材料的测试或分析；此类方法专用的装置
法律状态
2018-11-06 ：
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 31/00
申请日 : 20081014
授权公告日 : 20090826
申请日 : 20081014
授权公告日 : 20090826
2013-03-27 ：
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101554794813
IPC(主分类) : G01N 31/00
专利号 : ZL2008201540276
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
变更后权利人 : 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 201203 上海市张江路18号
变更后权利人 : 100176 北京市北京经济技术开发区文昌大道18号
登记生效日 : 20130306
号牌文件序号 : 101554794813
IPC(主分类) : G01N 31/00
专利号 : ZL2008201540276
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
变更后权利人 : 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 201203 上海市张江路18号
变更后权利人 : 100176 北京市北京经济技术开发区文昌大道18号
登记生效日 : 20130306
2009-08-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN201298031Y.PDF
PDF下载
