一种液晶显示测试装置

专利权的终止

摘要

本实用新型适用于液晶显示技术领域，提供了一种液晶显示测试装置，其包括存储器，所述装置还包括高速测试芯片，所述高速测试芯片与所述存储器连接。本实用新型实施例提供的液晶显示测试装置采用高速测试芯片取代现有的ARM、8051等测试芯片，满足了高速显示测试的要求，给测试用户带来便利。

基本信息

专利标题：

一种液晶显示测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820212533.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-10-17

授权号：

CN201269958Y

授权日：

2009-07-08

发明人：

苗延盛纪宁宁朱燕林

申请人：

天马微电子股份有限公司

申请人地址：

518118广东省深圳市龙岗区宝龙工业城

代理机构：

深圳中一专利商标事务所

代理人：

张全文

优先权：

CN200820212533.6

主分类号：

G02F1/13

IPC分类号：

G02F1/13

IPC结构图谱

G部——物理

G02

光学

G02F

用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器

G02F1/00

控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如，转换、选通或调制；非线性光学

G02F1/01

对强度、相位、偏振或颜色的控制

G02F1/13

基于液晶的，例如单位液晶显示单元

法律状态

2018-11-09 ：

专利权的终止

专利权有效期届满IPC(主分类) : G02F 1/13
申请日 : 20081017
授权公告日 : 20090708

2009-07-08 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

文件下载

暂无PDF文件可下载