液晶显示元件的测试方法
专利权的视为放弃
摘要
用电子束(7)扫描不可能用一般方法进行处理的液晶显示半成品的图象电极，以便测试有关的开关元件(13，20)。在不同类型的液晶显示半成品中，可用激光束(5)照射开关元件(23，24)来监控这些开关元件的质量。
基本信息
专利标题 ：
液晶显示元件的测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN88102316A
申请号 ：
CN88102316.7
公开（公告）日 ：
1988-11-09
申请日 ：
1988-04-18
授权号 ：
CN1014359B
授权日 ：
1991-10-16
发明人 ：
罗伯特·阿诺德·哈特曼汉斯·彼得·佩洛石克
申请人 ：
菲利浦光灯制造公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
肖掬昌
优先权 ：
CN88102316.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
1993-03-24 ：
专利权的视为放弃
1991-10-16 ：
审定
1990-04-11 ：
实质审查请求
1988-11-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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