半导体导电类型鉴别仪
专利权的终止
摘要

一种半导体导电类型鉴别仪,解决了在检测低阻值样品时由于接触电阻的影响,检测速度慢,准确度差的问题。它由依次相连的检测电阻、测试插座、滤波电路、驱动电路、N型P型判别指示电路以及电源电路组成,其特殊之处是:在检测电阻两端接有电流-电压转换模块,电流-电压转换模块的输出端通过电位器与比较电路相连接,在比较电路的输出端接有声光报警电路。优点是克服了样品检测过程中接触电阻的影响,实现低阻值样品的快速、准确检测。

基本信息
专利标题 :
半导体导电类型鉴别仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820218583.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-10-20
授权号 :
CN201242577Y
授权日 :
2009-05-20
发明人 :
刘晶
申请人 :
锦州阳光能源有限公司
申请人地址 :
121000辽宁省锦州市解放西路102号
代理机构 :
锦州辽西专利事务所
代理人 :
葛春波
优先权 :
CN200820218583.5
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2013-12-04 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101550529636
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2008202185835
申请日 : 20081020
授权公告日 : 20090520
终止日期 : 20121020
2009-05-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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