显微镜附接件及结合显微镜附接件进行样本分析的方法

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摘要

本发明涉及显微镜附接件及结合所述显微镜附接件进行样本分析的方法。显微镜附接件包含具有一或多个透镜的透镜设备、光源及样本托架。所述样本托架安置于所述透镜设备与所述光源之间，且经定位以使来自所述光源的光透射通过所述样本托架及所述透镜设备。所述透镜设备经安置以放大所述样本托架中的光学区域。附接机构经安置以将所述显微镜附接件连接到个人电子装置。

基本信息

专利标题：

显微镜附接件及结合显微镜附接件进行样本分析的方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN106842536A

申请号：

CN201610772916.8

公开（公告）日：

2017-06-13

申请日：

2016-08-30

授权号：

CN106842536B

授权日：

2022-05-10

发明人：

范纯圣

申请人：

豪威科技股份有限公司

申请人地址：

美国加利福尼亚州

代理机构：

北京律盟知识产权代理有限责任公司

代理人：

齐杨

优先权：

CN201610772916.8

主分类号：

G02B21/36

IPC分类号：

G02B21/36 G01N21/84

IPC结构图谱

G部——物理

G02

光学

G02B

光学元件、系统或仪器附注

G02B21/00

显微镜

G02B21/36

照相或投影用的布置

法律状态

2022-05-10 ：

授权

2017-07-07 ：

实质审查的生效

号牌文件类型代码 : 1604
号牌文件序号 : 101731985220
IPC(主分类) : G02B 21/36
专利申请号 : 2016107729168
申请日 : 20160830

2017-06-13 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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