用于光学显微镜中的图像处理的系统和方法

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摘要

示例实施例涉及用于例如针对用作线共焦荧光成像器中的光学检测器的CMOS相机而在光学显微镜检查中对图像进行处理的系统和方法。该方法包括：利用显微镜来采集原始图像；并且使用在X方向上与在Y方向上不同的点扩散函数来对原始图像的至少一部分进行不对称地去卷积，以便生成不对称地去卷积的图像。当图像是单色荧光图像时，该方法还包括压缩CMOS相机噪声。还提供的是用于在光学显微镜检查中对图像进行处理的系统和用于对来自基于CMOS相机的线扫描共焦荧光显微镜的单色图像进行处理的图像处理系统。

基本信息

专利标题：

用于光学显微镜中的图像处理的系统和方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN107850766A

申请号：

CN201680043260.4

公开（公告）日：

2018-03-27

申请日：

2016-07-18

授权号：

CN107850766B

授权日：

2022-04-05

发明人：

P.C.戈德温

申请人：

通用电气公司

申请人地址：

美国纽约州

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

郑浩

优先权：

CN201680043260.4

主分类号：

G02B21/00

IPC分类号：

G02B21/00 G02B21/16 G02B21/36