用于气态流体采样的装置和方法
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摘要
一种探测器入口,该探测器入口用于向用于探测关注的物质的分析装置提供样品,所述探测器入口包括:集气室,所述集气室用于允许气态流体流通过,所述集气室包括采样容积;采样入口,所述采样入口设置在所述集气室中,并且所述采样入口设置为从所述采样容积收集所述气态流体的样品并将所述样品提供到所述分析装置,其中所述流体携带有颗粒物;以及流体引导部,所述流体引导部设置为产生围绕环绕所述采样入口的所述集气室的所述气态流体的循环流,以改变由所述流体携带的颗粒物的空间分布,从而增加携带的所述颗粒物经过所述采样入口而不进入所述采样容积的相对比例。
基本信息
专利标题 :
用于气态流体采样的装置和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108139301A
申请号 :
CN201680056277.3
公开(公告)日 :
2018-06-08
申请日 :
2016-09-30
授权号 :
CN108139301B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
O·希拉克比A·克拉克B·A·C·格兰特
申请人 :
史密斯探测-沃特福特有限公司
申请人地址 :
英国赫特福德郡
代理机构 :
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 :
王丽娜
优先权 :
CN201680056277.3
主分类号 :
G01N1/22
IPC分类号 :
G01N1/22 H01J49/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/02
取样装置
G01N1/22
气体的
法律状态
2022-06-03 :
授权
2018-11-02 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 1/22
申请日 : 20160930
申请日 : 20160930
2018-06-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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