估计固态驱动设备的剩余寿命的方法
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摘要

公开了一种用于估计包括传感器的系统中的固态驱动(SSD)设备的剩余寿命的方法。该方法包括:通过周期性地测量环境变量来产生感测值;基于所述感测值和所述传感器与所述SSD设备之间的距离来产生与所述SSD设备相关联的负载值;基于所述负载值来计算施加于所述SSD设备的应力;基于应力‑寿命曲线和所述应力来计算所述SSD设备的损坏;以及基于阈值和所述损坏之间的差值来确定所述SSD设备的所述剩余寿命。所述应力‑寿命曲线表示所述应力与所述SSD设备的寿命之间的关系。

基本信息
专利标题 :
估计固态驱动设备的剩余寿命的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108206045A
申请号 :
CN201711344137.9
公开(公告)日 :
2018-06-26
申请日 :
2017-12-14
授权号 :
CN108206045B
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
优素福·奇纳尔
申请人 :
三星电子株式会社
申请人地址 :
韩国京畿道
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
范心田
优先权 :
CN201711344137.9
主分类号 :
G11C29/56
IPC分类号 :
G11C29/56  G01L5/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置,例如:用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置,例如,自动测试设备;所用接口
法律状态
2022-05-31 :
授权
2019-01-18 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20171214
2018-06-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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