用于3D测量应用的MEMS可调VCSEL驱动的扫频光源O...
授权
摘要
公开了光学探头系统，其能够对工程物体进行高速、高精度和高分辨率3D数字化。工程物体的3D维度数据通过一种使用扫频光源并具有改进的速度、空间分辨率及深度范围的光学相干断层成像系统进行测量。还公开一种坐标测量器(CMM)，其具备对工程物体实施高速、高分辨率及非接触测量的能力。传统CMM的触发式探头中的机械探针替换为具有可重新配置直径和长度的光探针。光探针中心到测量探头之间的距离调整为能快速适配待测量的物体的高度，以免除探头一维的运动并大大地提高效率。
基本信息
专利标题 ：
用于3D测量应用的MEMS可调VCSEL驱动的扫频光源OCT
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109310328A
申请号 ：
CN201780031926.9
公开（公告）日 ：
2019-02-05
申请日 ：
2017-03-24
授权号 ：
CN109310328B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
J·蒋A·凯布尔
申请人 ：
统雷有限公司
申请人地址 ：
美国新泽西州
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
郑勇
优先权 ：
CN201780031926.9
主分类号 ：
A61B5/00
IPC分类号 ：
A61B5/00 G01B9/00 G01Q60/18
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B5/00
用于诊断目的的测量；人的辨识
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2019-03-26 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : A61B 5/00
申请日 : 20170324
申请日 : 20170324
2019-02-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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