基于分数傅里叶变换的扫频激光本征线宽测量系统及方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种基于分数傅里叶变换的扫频激光本征线宽测量系统及方法，该方法包括：S1、将扫频激光分成两路，对其中一路做延时处理，另一路作为本征信号；S2、对经延时处理后的该路扫频激光与该本征信号进行拍频，获得拍频信号；S3、将拍频信号转换为电信号；S4、对电信号进行解调，获得扫频激光的相位；S5、根据扫频激光的相位，以电信号形式重构原始的扫频激光信号；S6、对重构的扫频激光信号进行分数傅里叶变换，获得扫频激光的本征线宽。本发明可以提高扫频激光本征线宽测量准确度。
基本信息
专利标题 ：
基于分数傅里叶变换的扫频激光本征线宽测量系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114427956A
申请号 ：
CN202210093449.1
公开（公告）日 ：
2022-05-03
申请日 ：
2022-01-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄礼刚张朝泽兰天意朱涛
申请人 ：
重庆大学
申请人地址 ：
重庆市沙坪坝区沙正街174号
代理机构 ：
重庆双马智翔专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
顾晓玲
优先权 ：
CN202210093449.1
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20220126
申请日 : 20220126
2022-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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