自适应本征锁定质量校正
实质审查的生效
摘要

一种校正质谱数据的方法包括:使用具有已知质荷比(m/z)值或先前质量测量的质荷比(m/z)值的校准物在一个或多个校准时间(tl)进行第一本征成分(A、B、C)的校准测量;列出在一个以上的采集期间存在的第二本征成分(D、E、F)列表,其中所述第二本征成分的质荷比(m/z)值在一个或多个校准时间(tl)期间或接近校准时间(tl)的时间不存在或未被观察到,但是在时间上确实与所述第一本征成分(A、B、C)重叠;并且利用所述列表计算一个或多个采集期的质量或质荷比(m/z)校正系数,所述采集期在时间上不接近或邻近与包含直接校准的质荷比(m/z)值的采集期。

基本信息
专利标题 :
自适应本征锁定质量校正
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114270473A
申请号 :
CN202080058265.0
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2020-08-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
基思·乔治·理查森马丁·雷蒙德·格林约翰·布莱恩·霍伊理查德·丹尼彼得·尼克松理查德·查普曼
申请人 :
英国质谱公司
申请人地址 :
英国威姆斯洛
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
宋融冰
优先权 :
CN202080058265.0
主分类号 :
H01J49/00
IPC分类号 :
H01J49/00  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 49/00
申请日 : 20200828
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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