光检测器
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摘要

本发明的光检测器包括:基板和膜体,该膜体以与基板的表面之间形成空隙的方式被支承于基板的表面上,膜体包括:隔着沿包括曲线部的线延伸的间隙彼此相对的第1配线层和第2配线层;和具有依赖于温度的电阻的电阻层,电阻层分别与第1配线层和第2配线层电连接,第1配线层的线侧的第1边缘部和第2配线层的线侧的第2边缘部分别连续地延伸。

基本信息
专利标题 :
光检测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110023725A
申请号 :
CN201780073839.X
公开(公告)日 :
2019-07-16
申请日 :
2017-11-30
授权号 :
CN110023725B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
山崎理弘柴山胜己北浦隆介
申请人 :
浜松光子学株式会社
申请人地址 :
日本静冈县
代理机构 :
北京尚诚知识产权代理有限公司
代理人 :
杨琦
优先权 :
CN201780073839.X
主分类号 :
G01J1/02
IPC分类号 :
G01J1/02  H01L27/144  H01L31/0248  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/02
零部件
法律状态
2022-06-03 :
授权
2019-08-09 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/02
申请日 : 20171130
2019-07-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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