缺陷标注方法及装置、卷料和片的制造方法及卷料和片
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摘要

本发明提供适于表示缺陷的位置的缺陷标注方法及缺陷标注装置、卷料的制造方法及卷料、以及片的制造方法及片。缺陷标注方法进行被检查物的缺陷检查,并根据缺陷检查的结果而在被检查物的缺陷位置实施标注,以缺陷(D)位于在被检查物的面内的与一方向交叉的另一方向上相邻的第一印刷图案(PT1)与第二印刷图案(PT2)之间的方式在被检查物的表面印刷第一印刷图案(PT1)以及第二印刷图案(PT2),由此表示缺陷(D)的位置。

基本信息
专利标题 :
缺陷标注方法及装置、卷料和片的制造方法及卷料和片
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108535259A
申请号 :
CN201810169825.4
公开(公告)日 :
2018-09-14
申请日 :
2018-02-28
授权号 :
CN108535259B
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
井村圭太越野哲史
申请人 :
住友化学株式会社
申请人地址 :
日本国东京都
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
刘文海
优先权 :
CN201810169825.4
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/89  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-06 :
授权
2020-02-04 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20180228
2018-09-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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