放射线检测器以及放射线图像摄影装置
授权
摘要
本发明提供一种在传感器基板中使用挠性基材时能够抑制放射线图像的画质下降的放射线检测器以及放射线图像摄影装置。一种放射线检测器(10)，其具备：传感器基板(12)，包含挠性基材(14)、及形成有设置在基材(14)的第1面(14A)且积蓄根据从放射线转换的光而产生的电荷的多个像素(16)的层；转换层(30)，设置在传感器基板(12)的第1面(14A)侧，并且将放射线转换为光；保护膜(32)，至少覆盖如下区域，即包含从覆盖转换层(30)的区域到基材(14)的与第1面(14A)相反的一侧的第2面(14B)的外周部中的区域(17)为止的区域；以及支撑部件(34)，从基材(14)的第2面(14B)侧经由保护膜(32)支撑基材(14)的区域(17)。
基本信息
专利标题 ：
放射线检测器以及放射线图像摄影装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN108627526A
申请号 ：
CN201810216054.X
公开（公告）日 ：
2018-10-09
申请日 ：
2018-03-15
授权号 ：
CN108627526B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
牛仓信一赤松圭一中津川晴康
申请人 ：
富士胶片株式会社
申请人地址 ：
日本国东京都
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
刘文海
优先权 ：
CN201810216054.X
主分类号 ：
G01N23/044
IPC分类号 ：
G01N23/044
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/044
使用X射线分层摄影法或层析X射线照相组合
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2020-01-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/044
申请日 : 20180315
申请日 : 20180315
2018-10-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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