放射线检测器
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明提供一种放射线检测器，其能够容易地安装具有半导体层的衬底和光照射机构。其具备：玻璃衬底(11)，其具有通过X射线的入射，变换为载流子的X射线感应型半导体(14)；平面形状的光照射机构(28)，其设置在该玻璃衬底(11)的X射线入射侧的相反侧，从而将X射线感应型半导体(14)中残留的载流子用从光照射机构(28)照射的光除去。在玻璃衬底(11)和光照射机构(28)之间夹有具有透光性的凝胶状粘接板(32)，并且光照射机构28为平面形状，因此能够容易地安装玻璃衬底(11)和光照射机构(28)。此外，因为所夹有的粘接板(32)具有透光性，所以从光照射机构(28)照射的光不被遮蔽，能够透过粘接板(32)照射到玻璃衬底(11)上。
基本信息
专利标题 ：
放射线检测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101048674A
申请号 ：
CN200580037296.3
公开（公告）日 ：
2007-10-03
申请日 ：
2005-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
佐藤贤治吉牟田利典
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都府
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
李贵亮
优先权 ：
CN200580037296.3
主分类号 ：
G01T1/24
IPC分类号 ：
G01T1/24 H01L31/09 H01L27/14 H04N5/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/24
用半导体探测器
法律状态
2010-03-24 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-11-28 ：
实质审查的生效
2007-10-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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