闪烁器阵列、闪烁器阵列的制造方法、放射线检测器及放射线检...
公开
摘要
本发明的闪烁器阵列具备结构体和第2反射层，所述结构体具备至少一个闪烁器节和反射光的第1反射层，至少一个闪烁器节及第1反射层具有第1表面和第2表面，至少一个闪烁器节具有包含稀土类氧硫化物荧光体的烧结体，所述第2反射层介由厚度为2μm～40μm的粘接层而设置于第1表面上且包含反射光的膜。
基本信息
专利标题 ：
闪烁器阵列、闪烁器阵列的制造方法、放射线检测器及放射线检查装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114586110A
申请号 ：
CN202080073790.X
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2020-10-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
近藤弘康森本一光
申请人 ：
株式会社东芝;东芝高新材料公司
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
白丽
优先权 ：
CN202080073790.X
主分类号 ：
G21K4/00
IPC分类号 ：
G21K4/00 H01L27/146 A61B6/03 G01N23/046 G01T1/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G21
核物理；核工程
G21K
未列入其他类目的粒子或电离辐射的处理技术；照射装置；γ射线或X射线显微镜
G21K4/00
用于将粒子或电离辐射的空间分布转换成可见图像的转换屏幕，如荧光屏
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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