放射线检查装置及放射线检查方法
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摘要
本发明提供一种放射线检查装置及放射线检查方法,不管空孔或异物的存在位置如何均可提高空孔或异物的检测精度。放射线检查装置包括:放射线源(2),照射放射线;载台(4),位于放射线源(2)的照射范围且能够载置被检体(1);检测器(3),隔着载台(4)而位于与放射线源(2)的相反侧并检测透射被检体(1)的放射线;处理装置(6),将由检测器(3)获得的被检体(1)的二维的透视信息进行图像化;及显示装置(7),显示利用处理装置(6)而获得的图像。而且,处理装置(6)具有算出被检体(1)的位置不同的两个透射数据的比值并生成二维的比值图像的运算部(62),显示装置(7)显示运算部(62)所生成的比值图像。
基本信息
专利标题 :
放射线检查装置及放射线检查方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110108728A
申请号 :
CN201811214223.2
公开(公告)日 :
2019-08-09
申请日 :
2018-10-18
授权号 :
CN110108728B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
富泽雅美渡邉洋贵
申请人 :
东芝IT·控制系统株式会社
申请人地址 :
日本东京新宿区西新宿六丁目24番1号(邮编:160-0023)
代理机构 :
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 :
杨文娟
优先权 :
CN201811214223.2
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-27 :
授权
2019-09-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20181018
申请日 : 20181018
2019-08-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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