用于噪声校正的发射机性能测量的测量设备和测量方法
授权
摘要
本发明涉及用于噪声校正的发射机性能测量的测量设备和测量方法。测量设备(4)包括：第一测量路径(10)，该第一测量路径适于从被测设备(1)接收测量信号(13)，并且从所述测量信号(13)确定第一测量值(14)。而且，该测量设备包括第二测量路径(11)，该第二测量路径适于接收所述测量信号(13)并且从所述测量信号(13)确定第二测量值(15)。最后，该测量设备包括噪声抑制器(12)，该噪声抑制器连接到所述第一测量路径(10)的输出端和所述第二测量路径(11)的输出端，并且适于接收所述第一测量值(14)和所述第二测量值(15)并且通过对于每个第一测量值，将所述第一测量值与相应的第二测量值相乘从而生成多个测量值积来抑制噪声。
基本信息
专利标题 ：
用于噪声校正的发射机性能测量的测量设备和测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109802730A
申请号 ：
CN201810410378.7
公开（公告）日 ：
2019-05-24
申请日 ：
2018-05-02
授权号 ：
CN109802730B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
爱德温·门泽尔
申请人 ：
罗德施瓦兹两合股份有限公司
申请人地址 ：
德国慕尼黑
代理机构 ：
北京同达信恒知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄志华
优先权 ：
CN201810410378.7
主分类号 ：
H04B17/15
IPC分类号 ：
H04B17/15 H04B7/08 H04B1/10
相关图片
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2020-09-11 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 17/15
申请日 : 20180502
申请日 : 20180502
2019-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN109802730A.PDF
PDF下载
